上海千实精密机电解读IC卡动态弯曲双向扭试验机的适用及技术参数-

IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

本仪器针对性IC卡在国标GB/T16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验；完全符合以上标准。

技术参数

扭曲度：±15°±1°雙向d=86mm

正反向各15°，总扭曲角度30°

測試周期：1~9999次

測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5Hz

长边位移量为20mm(+0.00mm,-1mm)

长边小位移量为2mm±0.50mm

短边位移量为10mm(+0.00mm,-1mm)

长边小位移量为1mm±0.50mm

電壓：AC220V±5%

外形尺寸：L670XW380XH220

功率：35W

儀器重量：70kg

使用方法

(1)仪器接通电源,将计数器,数值调到三个“0”,放上标准卡。

(2)按扭曲启动按扭(此时只有点功能),看摇摆指针是否在±15°之间作往复运动。

(3)按下弯曲启动按扭,使弯曲卡位处于距离远,看指针分别在某一刻度,或者用卡尺测量台面到卡的高度；

然后再按下弯曲启动按扭,使得弯曲卡位处于距离近,看指针分别在另一刻度,或者用卡尺测量台面到卡顶端高度,两高度之差分别是10mm和20mm。